技术指标:

分析范围 :1PPM---99.99%

测量时间 :60---300 秒

分析精度 :0.1%---99.99%

测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt

测镀层厚度、精度：0.03um

重 量 :30KG

尺 寸 :350*500*400mm

X射线源 :X射线光管。

探测器 :正比计数管

仪 器 配 置：

单样品腔

正比计数器

放大电路

高低压电源

X光管